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低电容探头,P6158、P6150,测试ECL、CMOS和其它逻辑电路上的低压信号时,需要使用低电容探头来捕获**的信号,同时最大限度地减小对被测设备的负载影

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产品名称: 低电容探头,P6158、P6150,测试ECL、CMOS和其它逻辑电路上的低压信号时,需要使用低电容探头来捕获**的信号,同时最大限度地减小对被测设备的负载影
产品型号: P6158、P6150
产品展商: 泰克/Tektronix
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简单介绍

测试ECL、CMOS和其它逻辑电路上的低压信号时,有一点很重要,那就是需要使用低电容探头来捕获**的信号,同时*大限度地减小对被测设备的负载影响。泰克可以提供目前市场上带宽*高、电容*低的探测解决方案。


低电容探头,P6158、P6150,测试ECL、CMOS和其它逻辑电路上的低压信号时,需要使用低电容探头来捕获**的信号,同时最大限度地减小对被测设备的负载影  的详细介绍
产品系列
衰减
*高电压
带宽
输入阻抗
View P6158
P6158
20:1
22 VRMS (DC+pkAC)
3 GHz
要求50 O的输入阻抗
View P6150
P6150
1X: 1:1
10X: 10:1
12.5 VRMS (DC+pkAC)
(收示波器输入限制或 42 VRMS)
1X: 3 GHz
10X: 9 GHz
要求50 O的输入阻抗

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