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LCR测试仪IM3536，测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：*快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证，可测量低阻，可内部发生D

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产品名称: LCR测试仪IM3536，测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：*快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证，可测量低阻，可内部发生D
产品型号: IM3536
产品展商: 日本日置/hioki
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简单介绍

DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的标杆产品 测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：*快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量 可内部发生DC偏压测量 从研发到生产线活跃在各种领域中 主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。


LCR测试仪IM3536，测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：*快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证，可测量低阻，可内部发生D  的详细介绍
基本参数
测量模式 LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）

测量参数

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
测量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）
显示范围 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）
测量频率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
测量信号电平 [V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (*大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (*大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (*大100 mA) 
[CC模式]的[通常模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (*大5 V) 
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (*大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (*大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定
DC偏压 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
输出阻抗 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
显示 彩色TFT5.7英寸，触摸屏
功能 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口 EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
体积及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1
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